Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, n-value, critical caracteristics, critical current, mechanical properties, bending process, experimental results, damage mechanisms
Ключевые слова: HTS, Bi2212, filaments, irradiation effects, resistivity, experimental results, damage mechanisms
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, strands, fabrication, bronze process, stiffness, modeling, numerical analysis, degradation studies, damage mechanisms
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, measurement technique, critical current density, damage mechanisms
Ключевые слова: MgB2, LTS, Nb3Ga, Nb3Sn, V3Si, irradiation effects, comparison, experimental results, damage mechanisms
Oh S.S., Ha D.W., Okuda H., Ochiai S.(ochiai@iic.kyoto-u.ac.jp), Fujimoto M.
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Matsuoka T., Okuda H., Ochiai S.(ochiai@iic.kyoto-u.ac.jp), Shin J.K.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.